Tube in Tube (3軸法) 試験によるシールドコネクター特性推定

Tube in Tube 法の試験装置のなかに、測定対象としてシンプルな円筒形のコネクターを取り付けたモデルを示します。

シールドの内側に Port1 を、外側に Port2 を設定し、3次元電磁界解析を行うことによって、コネクターから漏洩しやすさの指標である表面伝達インピーダンスを推定しました。

今回は開口部の異なる3種類のコネクターについて計算を行い、結果を比較しました。

3種類のコネクターについて、表面伝達インピーダンスの計算結果を比較して示します。このように、シールドコネクターの形状などを変えたときの遮へい性能を、シミュレーションで比較することができます。 　

なお、表面伝達インピーダンスが大きいほど、ノイズが漏れやすいことを意味します。この結果から、低周波では電磁界の漏れやすさはスリットの有無によらずコネクターシェルの厚みで決まること、100MHz 程度の高周波になるとスリットからの漏洩が支配的になることなど、興味深い傾向がわかります。