【分析事例】材料試験（短軸引張）へのDICの活用
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DICを引張試験結果の分析に利用し、コスト削減と高精度CAE解析を実現
CAE解析によって材料挙動を正確に捉えるには、各種の材料試験を行って材料の特性をデータ化し、解析に使用する材料パラメータに変換する必要があります。しかし、材料の特性を高精度に取得するには、試験のための手間（コスト）が必要になってきます。さらに最近では、高精度な解析ニーズへの高まりにより、より複雑な材料パラーメータが必要とされる場面が増えています。
本事例では、デジタル画像相関法（DIC : Digital Image Correlaton）を引張試験結果の分析に利用し、各種のデータがスムーズかつ簡単に入手できた事例をご紹介します。
ひずみ速度による応力ーひずみ線図の違い
準静的な引張試験や高速引張試験も、カメラの秒間データ取得枚数を指定することで、簡単にデータを取得でき、さまざまな分析に活用頂けます。
本事例は、準静的引張試験と高速引張試験のDICデータを取得し、ひずみ速度による応力ーひずみ線図の違いを把握した事例です。
引張試験にDICを活用することで、時々刻々と変化するひずみや応力を、非接触で簡単に測定できます。
ひずみ速度による応力ひずみ線図の違い
ひずみゲージレスでの各種データ取得
DICデータは高精度でデータを取得できるので、高精度CAE解析の材料データとしてご利用いただけます。
本事例では、引張試験機のサーボ機能を利用し、引張ー除荷を繰り返す短軸引張試験を行い、そのデータから、ヤング率のひずみ依存性のデータを取得した事例をご紹介します。
ヤング率のひずみ依存性
事例一覧
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